前回に引き続き、今回は『Lean Integration』第三弾「Wafermap アナライザ」のご紹介です。

ウエーハ検査画像から不良パターンを自動で見分け、過去のデータとの類似検索を実現します。

Edge(端部)/Center(中央)/Ring(リング状)など7種類のパターンに自動分類し、不良が集中している領域を数値化します。

画像を単純にピクセル単位で比べるのではなく、分布・方向・密度といった「意味のある特徴」で評価。

これにより、異常の早期発見と原因特定をスピーディに行え、製造歩留まり(良品率)の改善を加速します。

スタンドアロンアプリ(単独で動作するソフトウェア)として買い切り型で提供。

現場ですぐに使える、シンプルな設計です。